| GaN HEMT钝化层沉积 | 用于AlGaN/GaN器件PECVD SiNₓ钝化层沉积,控温在约250–350℃区间,兼顾钝化效果与热预算约束。 |
| GaAs器件钝化/减反射膜沉积 | 适配GaAs太阳能电池、射频器件中SiNₓ钝化层和减反射层沉积的温度管理。 |
| SiC器件表面钝化与绝缘层沉积 | 用于SiC功率器件PECVD SiNₓ/SiO₂钝化层、栅极绝缘层沉积过程的基座和腔体控温。 |
| InP光电子器件钝化层沉积 | 适配InP激光器、探测器等光电子器件中PECVD介质层沉积的温度控制。 |
| 化合物半导体LED/Micro-LED封装层 | 用于GaN基LED、Micro-LED芯片中SiNₓ/SiO₂封装层、保护层沉积的温控配套。 |
| 化合物半导体射频器件钝化 | 适配GaN/GaAs射频PA、开关等器件PECVD钝化工艺,温度波动会影响器件可靠性和电学性能。 |
| 反应腔/腔壁控温 | 带走等离子体放热和工艺热负荷,维持腔体温度稳定,降低热漂移。 |
| 基座/静电吸盘恒温 | 保持化合物半导体晶圆在沉积阶段温度均匀,提升片内、片间一致性。 |
| 沉积前预热与沉积后缓冷 | 帮助晶圆平稳升至工艺温度并按设定曲线降温,降低热应力和薄膜开裂风险。 |
| 射频电源、匹配网络与真空系统冷却 | 维持RF部件、干泵、分子泵等在沉积过程中连续稳定运行。 |
| 整机工艺冷却水回路管理 | 降低厂务水温波动对PECVD设备运行的影响。 |
| 研发、中试和产线配套 | 在化合物半导体工艺窗口筛选、薄膜应力调控、批次一致性验证阶段提供可复现的温控条件。 |